Scanning Electron Microscope (SNE-4500M PLUS) 사진
Scanning Electron Microscope (SNE-4500M PLUS)
담당자
설치장소
제5공학관 5104호
수량

용도

나노섬유기반 유연전자피부 제조를 위한 실험 결과물 정밀 관측 장치

기본사양

응용분야

기타